适用于：X射线衍射（XRD）设备，搭载高功率Cu靶X射线源，衍射角范围1°-160°，分辨率优异。支持粉末衍射、薄膜分析、应力测试等模式，可精准解析晶体结构、测定物相组成与晶粒尺寸。配备 Lynxeye XE 探测器，提升数据采集效率，适配金属、陶瓷、矿物、高分子等样品，广泛用于材料科学、地质、化工领域的物相与结构表征。

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